二维复式晶格完全带隙光子晶体缺陷频率的分析 - 第三届全国光机电技术与系统集成学术学会第十三届全国光电技术与系统学术会议.pdf

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2026-1-12 09:15 | 查看全部阅读模式

会议论文《二维复式晶格完全带隙光子晶体缺陷频率的分析》探讨了二维复式晶格结构中光子晶体的完全带隙特性及其在缺陷处的频率响应。该研究通过理论分析与数值模拟相结合的方法，深入研究了缺陷对光子带结构的影响，为光子晶体器件的设计与应用提供了重要参考。

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