会议论文《二维平面扫描被动毫米波成像系统辐射计不确定性方程研究》探讨了在二维平面扫描被动毫米波成像系统中，辐射计测量的不确定性问题。该文通过建立数学模型，分析了影响系统成像精度的主要因素，并提出了相应的不确定性方程。研究成果对提高毫米波成像系统的可靠性和准确性具有重要意义，为相关领域的技术发展提供了理论支持。
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