会议论文《Conflict-Avoidance-Driven Test Generation and Test Point Insertion for Transition Faults in Broadside Scan Testing》提出了一种针对广义扫描测试中转换故障的冲突避免测试生成与测试点插入方法。该研究旨在提高测试效率和覆盖率，通过优化测试模式设计减少冲突，提升测试质量。文章在第五届中国测试学术会议上发表，为集成电路测试领域提供了新的思路和技术支持。
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