会议论文《CMOS抗辐射加固电路RHBD技术研究》由电子科技大学电子科学技术研究院第四届学术会议发表。该文探讨了CMOS电路在辐射环境下的可靠性问题，重点研究了RHBD（Radiation Hardened by Design）技术，提出了一系列有效的抗辐射设计方法，以提升电路在高辐射环境中的稳定性与可靠性，对航天电子等领域具有重要应用价值。
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