会议论文《面向目标不合格品率的统计过程控制方法研究》探讨了如何通过统计过程控制（SPC）方法有效降低产品不合格率。该研究针对制造业中常见的质量控制问题，提出了一种以目标不合格品率为基准的控制策略，提升了过程监控的精准度与效率。论文在2009年中国仪器仪表与测控技术大会上发表，为现代质量管理体系提供了理论支持和实践参考。
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