会议论文《漏磁通对并联导体损耗影响的分析》针对并联导体在高频电力电子设备中的损耗问题进行了深入研究。文章通过理论分析与实验验证，探讨了漏磁通对导体损耗的影响机制，提出了降低损耗的有效措施。该研究成果为优化并联导体设计、提高系统效率提供了重要参考。
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