会议论文《机载高光谱OMIS-Ⅱ图像边缘辐射畸变校正》探讨了机载高光谱传感器在成像过程中出现的边缘辐射畸变问题。该研究针对OMIS-Ⅱ传感器，提出了一种有效的校正方法，以提高图像质量与数据准确性。论文在第七届成像光谱技术与应用研讨会上发表，为高光谱成像领域的数据处理提供了重要参考。
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