整体模压封头中夹杂缺陷二次射线照相定位方法 - 高性能复合材料结构制造与检测技术暨第五届全国复合材料性能测试与检测技术交流会.pdf

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2026-1-11 18:04 | 查看全部阅读模式

会议论文《整体模压封头中夹杂缺陷二次射线照相定位方法》介绍了在高性能复合材料结构制造与检测技术领域，针对整体模压封头中夹杂缺陷的检测问题，提出一种二次射线照相定位方法。该方法提高了缺陷定位的准确性，为复合材料结构的质量控制提供了有效技术支持。

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