会议论文《微波暗室紧缩场X波段时域背景分析》发表于2009年全国天线年会，主要研究了微波暗室中紧缩场在X波段的时域特性。文章分析了紧缩场的电磁环境背景，探讨了其对天线测量的影响，为提高天线测试精度提供了理论依据和技术支持。
文档为pdf格式，0.42MB，总共4页。
举报
