会议论文《小子样条件下电子器件可靠性评估系统研究》探讨了在样本数量有限的情况下，如何有效评估电子器件的可靠性。该研究针对传统方法在小样本情况下的不足，提出了一种新的评估系统，提高了评估的准确性和实用性。文章结合可靠性理论与实际应用，为电子产品的设计和质量控制提供了重要参考，适用于电工产品及电接触领域的可靠性分析。
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