2009年全国微波毫米波会议上的论文《宽角扫描天线激励下介质体电磁特性的快速分析》研究了在宽角扫描天线激励下介质材料的电磁特性。该文提出了一种高效的分析方法，用于快速计算介质体在不同入射角度下的电磁响应，提升了微波系统设计的效率与精度。
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