会议论文《宇航用电子元器件单粒子辐照技术》探讨了航天器中电子元器件在宇宙辐射环境下的可靠性问题。文章介绍了单粒子辐照效应的测试方法与分析技术，强调了其在提高航天电子系统抗辐射能力中的重要性。该研究为宇航电子元器件的设计与应用提供了理论依据和技术支持，对保障空间任务的安全性和稳定性具有重要意义。
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