会议论文《多谱线拟合ICP-OES法测定黄饼产品中的主要杂质元素》发表于中国核学会2009年学术年会。该文探讨了利用电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）对黄饼产品中的主要杂质元素进行准确测定的方法。通过多谱线拟合技术，提高了检测的灵敏度和准确性，为核材料分析提供了可靠的技术支持。
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