会议论文《基于部分重叠片段的并行测试封装设计》探讨了如何通过部分重叠片段实现并行测试的封装设计，以提高测试效率和资源利用率。该研究针对传统测试方法在时间与空间上的局限性，提出了一种创新的封装结构，能够有效支持多任务并行处理。文章结合2009中国仪器仪表与测控技术大会的背景，展示了该设计在实际应用中的潜力，为相关领域的技术发展提供了理论支持与实践参考。
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