基于扩散效应的膜_基传感器弯曲分析 - 第七届全国压力容器学术会议.pdf

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2026-1-11 15:42 | 查看全部 阅读模式

会议论文《基于扩散效应的膜_基传感器弯曲分析》发表于第七届全国压力容器学术会议。该文探讨了膜基传感器在弯曲状态下的性能变化,重点分析了扩散效应对传感器响应的影响。研究通过理论建模与实验验证相结合的方法,为提高传感器在复杂环境下的测量精度提供了新思路。

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基于扩散效应的膜_基传感器弯曲分析 - 第七届全国压力容器学术会议
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