会议论文《互耦效应对泰勒阵列天线的影响分析》发表于第三届全国嵌入式技术和信息处理联合学术会议。该文研究了泰勒阵列天线中互耦效应对辐射性能的影响，通过仿真与实验分析，探讨了互耦效应对方向图、波束宽度及增益等参数的干扰。文章提出了优化设计方法，以减少互耦带来的负面影响，为高性能天线系统的设计提供了理论依据和技术支持。
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