会议论文《一种高稳定性天线罩测试微波暗室》发表于2009年全国天线年会，主要探讨了用于天线罩测试的微波暗室设计。文章提出了一种高稳定性的暗室结构，有效降低了外部电磁干扰，提高了测试精度。该研究对提升天线性能评估的可靠性具有重要意义，为后续相关设备的设计与测试提供了理论支持和技术参考。
文档为pdf格式，0.47MB，总共3页。
举报
