会议论文《一种基于TSP问题的扫描链阻塞技术低费用测试方法》提出了一种利用旅行商问题（TSP）模型优化扫描链阻塞技术的测试方法。该方法通过将测试路径规划转化为TSP问题，降低测试成本并提高测试效率。研究针对集成电路测试中的扫描链阻塞问题，设计了低费用的测试策略，有效减少了测试时间与资源消耗。该成果为容错计算领域提供了新的思路，具有重要的理论和应用价值。
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