会议论文《一款通用微处理器的CAM内建自测试方法》提出了一种针对通用微处理器中CAM（内容地址存储器）的内建自测试方案。该方法通过设计特定的测试模式和算法，实现了对CAM模块的高效检测与诊断，提高了系统的可靠性和容错能力。该研究在第十三届全国容错计算学术会议上发表，为微处理器的测试技术提供了新的思路和实用工具。
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