会议论文《一种600V VDMOS终端保护环结构的设计》介绍了针对600V VDMOS器件的终端保护环结构设计方法。该设计有效提高了器件的击穿电压和可靠性，优化了电场分布，减少了边缘效应带来的影响。文章通过仿真与实验验证了设计的可行性，为电力电子器件的性能提升提供了理论支持和技术参考。
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