一种OFDM调制器的测量模型与方法 - 第二届安捷伦科技节暨安捷伦科技生命科学与化学分析技术高层论坛、安捷伦测量科技论坛.pdf

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2026-1-11 11:50 | 查看全部阅读模式

会议论文《一种OFDM调制器的测量模型与方法》发表于第二届安捷伦科技节暨相关论坛，探讨了正交频分复用（OFDM）调制器的测量技术。文章提出了一种有效的测量模型和方法，旨在提高OFDM系统的性能评估精度。该研究对通信系统的设计与优化具有重要参考价值，体现了安捷伦在测量科技领域的技术实力。

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