XPS定量分析准确性的探讨 - 2009年全国第二届电磁材料及器件学术会议.pdf

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2026-1-11 11:40 | 查看全部 阅读模式

会议论文《XPS定量分析准确性的探讨》发表于2009年全国第二届电磁材料及器件学术会议。该文系统分析了X射线光电子能谱(XPS)在定量分析中的影响因素,包括仪器参数、样品制备及数据处理方法等。研究指出,准确的定量分析需结合标准样品校正与合理的背景扣除方法,以提高数据可靠性。文章对提升XPS在材料科学研究中的应用价值具有重要参考意义。

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XPS定量分析准确性的探讨 - 2009年全国第二届电磁材料及器件学术会议
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