会议论文《XPS测定离子注入深度分布》发表于2009年全国第二届电磁材料及器件学术会议。该文探讨了利用X射线光电子能谱（XPS）技术对离子注入材料的深度分布进行分析的方法。通过实验与理论结合，研究者验证了XPS在测量离子注入层深度方面的有效性，为电磁材料的性能优化提供了重要依据。
文档为pdf格式，0.28MB，总共2页。
举报
