会议论文《X光镀层测厚应用技术探讨》发表于2009年航空航天表面处理新技术研讨会，主要探讨了X光在镀层测厚中的应用技术。文章分析了X光测厚原理及其在航空航天领域的实际应用，强调了其高精度和非破坏性的优势。同时，对影响测厚精度的因素进行了深入研究，为相关技术的优化提供了理论依据。
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