ICP-OES法测定U3Si2中硼等8种杂质元素 - 中国核学会2009年学术年会.pdf

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2026-1-11 10:17 | 查看全部 阅读模式

会议论文《ICP-OES法测定U3Si2中硼等8种杂质元素》发表于中国核学会2009年学术年会,介绍了采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)对铀硅化物U3Si2中的硼、铁、镍等8种杂质元素进行定量分析的方法。该方法具有灵敏度高、准确度好、操作简便等优点,为核材料质量控制提供了可靠的技术支持。

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ICP-OES法测定U3Si2中硼等8种杂质元素 - 中国核学会2009年学术年会
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