会议论文《GIS金属颗粒放电发展的谱图特征及Weibull参数》探讨了GIS设备中金属颗粒引发的局部放电现象，分析了其放电过程的谱图特征，并引入Weibull分布参数对放电发展进行概率描述。该研究为GIS设备的绝缘状态评估和故障预测提供了理论依据和技术支持，具有重要的工程应用价值。
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