高可靠快恢复二极管中寿命控制技术的研究 - 2010年全国半导体器件技术研讨会.pdf

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2026-1-11 07:21 | 查看全部 阅读模式

会议论文《高可靠快恢复二极管中寿命控制技术的研究》探讨了在快恢复二极管中如何通过寿命控制技术提高其可靠性和性能。文章分析了载流子寿命对器件特性的影响,并提出了有效的寿命调控方法,以优化二极管的开关速度和反向恢复特性。该研究为高性能半导体器件的设计与制造提供了理论支持和技术参考,具有重要的应用价值。

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高可靠快恢复二极管中寿命控制技术的研究 - 2010年全国半导体器件技术研讨会
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