会议论文《锁相环的可测性设计》发表于第十四届计算机工程与工艺会议(NCCET10)，探讨了在锁相环电路中引入可测性设计的方法，以提高其测试效率和故障诊断能力。文章提出了一种有效的测试架构，能够实现对锁相环关键参数的在线监测与分析，为复杂集成电路的可靠性提供了技术支持。
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