会议论文《脉冲激光模拟单粒子效应研究进展》发表于2010年中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会。该文综述了脉冲激光技术在模拟单粒子效应中的应用，分析了其在航天电子器件可靠性评估中的重要性。文章总结了相关研究的最新成果，并探讨了该技术的发展趋势与实际应用前景，为提高电子系统抗辐射能力提供了理论支持。
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