会议论文《多米诺逻辑软错误易感性分析》发表于第十四届计算机工程与工艺会议(NCCET10)，主要研究多米诺逻辑电路在软错误影响下的敏感性。文章通过分析电路结构和信号传播特性，评估了软错误对电路功能的潜在威胁，提出了一种有效的易感性评估方法。该研究为提高数字电路的可靠性提供了理论支持和技术参考，具有重要的工程应用价值。
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