会议论文《基于多输出SVM的电子产品故障预测方法研究》发表于第三届国防科技工业试验与测试技术发展战略高层论坛。该文提出一种利用多输出支持向量机（SVM）进行电子产品故障预测的方法，旨在提高故障诊断的准确性和效率。通过分析多维传感器数据，模型能够同时预测多个故障类型，为电子设备的可靠性评估和维护决策提供科学依据。
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