会议论文《基于功能信息的IC验证工程学研究》发表于第二十届全国测控、计量、仪器仪表学术年会。该文探讨了集成电路验证中功能信息的应用，提出了一种提升验证效率与准确性的方法。研究结合了测控与仪器技术，为IC设计提供了新的思路，具有重要的工程实践价值。
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