会议论文《基于PIXE无损测试数据的古今名瓷判别分析》发表于第十五届全国核电子学与核探测技术学术年会。该文利用质子激发X射线荧光（PIXE）技术对古今名瓷进行无损检测，通过分析元素组成差异实现瓷器年代和产地的判别，为文物鉴定提供了科学依据和技术支持。
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