会议论文《一种逻辑电路软错误率评估框架》发表于第十四届计算机工程与工艺会议(NCCET10)，旨在提出一种有效的逻辑电路软错误率评估方法。该研究通过分析电路结构和故障传播特性，建立评估模型，提高软错误检测的准确性。论文对提升电路可靠性具有重要意义，为后续相关研究提供了理论支持。
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