会议论文《一种新型数控跌落试验机的研制》介绍了为提高电子元器件可靠性测试效率而设计的新型数控跌落试验机。该设备采用先进的控制技术，实现了跌落高度、角度和次数的精确控制，提高了测试的准确性和重复性。论文详细阐述了系统的结构设计与控制原理，并通过实验验证了其性能优势，对提升电子产品可靠性研究水平具有重要意义。
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