会议论文《一种基于路径敏化的延时激励波形生成算法》提出了一种改进的延时测试方法，通过路径敏化技术生成高效的激励波形。该算法能够有效提高电路测试的覆盖率和诊断能力，减少测试时间。文章在第十四届计算机工程与工艺会议(NCCET10)上发表，为数字电路测试领域提供了新的思路和技术支持。
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