LED常见失效模式及失效机理研究 - 2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会.pdf

9 0
2026-1-11 00:29 | 查看全部 阅读模式

会议论文《LED常见失效模式及失效机理研究》探讨了LED在使用过程中常见的失效现象及其背后的物理和化学机制。文章分析了热应力、电迁移、材料老化等因素对LED性能的影响,提出了相应的失效分析方法和预防措施。该研究为提高LED的可靠性与使用寿命提供了理论依据和技术支持,对推动LED技术的发展具有重要意义。

文档为pdf格式,0.62MB,总共5页。

LED常见失效模式及失效机理研究 - 2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会
文件大小:
634.88 KB
高速下载
2026 资料下载 联系邮件:1991591830#qq.com 浙ICP备2024084428号-1