Analysis of dislocation stability in nanoscale inhomogeneity with interface stress - 2010中国材料研讨会.pdf

3 0
2026-1-11 00:14 | 查看全部 阅读模式

会议论文《Analysis of dislocation stability in nanoscale inhomogeneity with interface stress》探讨了纳米尺度不均匀性中位错稳定性的相关问题。该研究考虑了界面应力对位错行为的影响,为理解材料在纳米尺度下的力学性能提供了理论依据。文章通过分析不同界面条件下的位错稳定性,揭示了界面效应在纳米材料设计中的重要性。该成果发表于2010年中国材料研讨会,对材料科学领域具有重要意义。

文档为pdf格式,0.34MB,总共8页。

Analysis of dislocation stability in nanoscale inhomogeneity with interface stress - 2010中国材料研讨会
文件大小:
348.16 KB
高速下载
2026 资料下载 联系邮件:1991591830#qq.com 浙ICP备2024084428号-1