硅半导体探测器灵敏区厚度的测定 - 第七届全国高压加速器技术应用学术交流会.pdf

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2026-1-10 23:28 | 查看全部 阅读模式

会议论文《硅半导体探测器灵敏区厚度的测定》发表于第七届全国高压加速器技术应用学术交流会。该文探讨了硅半导体探测器灵敏区厚度的测量方法,对提高探测器性能具有重要意义。研究结合实验与理论分析,提出了有效的测量技术,为相关领域的应用提供了参考依据。

文档为pdf格式,0.11MB,总共5页。

硅半导体探测器灵敏区厚度的测定 - 第七届全国高压加速器技术应用学术交流会
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