会议论文《直流盘型玻璃绝缘子离子迁移和热破坏试验研究分析》探讨了直流环境下玻璃绝缘子的离子迁移现象及其对绝缘性能的影响。通过实验分析，研究揭示了离子迁移与热破坏之间的关系，为提高绝缘子在高电压环境下的可靠性提供了理论依据。该论文发表于2010年江苏省电机工程学会高电压技术学术年会，对电力系统绝缘材料的研究具有重要参考价值。
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