烧结温度对0.9PbZr0.52Ti0.4803-0.1NaNbO3压电陶瓷结构及电学性能的影响 - 第十六届全国高技术陶瓷学术年会暨景德镇高技术陶瓷高层论坛.pdf

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2026-1-10 23:20 | 查看全部 阅读模式

本文研究了烧结温度对0.9PbZr0.52Ti0.48O3-0.1NaNbO3压电陶瓷结构及电学性能的影响。通过实验发现,随着烧结温度的升高,陶瓷的致密度和晶粒生长显著改善,从而提升了其介电常数和压电性能。但过高的烧结温度会导致晶粒异常长大,降低材料的机械品质因数。研究结果为优化该体系压电陶瓷的制备工艺提供了重要参考。

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烧结温度对0.9PbZr0.52Ti0.4803-0.1NaNbO3压电陶瓷结构及电学性能的影响 - 第十六届全国高技术陶瓷学术年会暨景德镇高技术陶瓷高层论坛
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