会议论文《智能同轴光源在AOI中的应用》发表于2010年中国高端SMT学术会议，探讨了智能同轴光源技术在自动光学检测（AOI）中的实际应用。文章分析了该光源如何提升检测精度与效率，尤其在高密度PCB板的缺陷识别中表现出色。研究结果表明，智能同轴光源能够有效改善光照均匀性，减少阴影干扰，为SMT生产线提供更可靠的检测方案。
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