会议论文《数显卡尺测量不确定度分析》发表于第四届现代切削与测量工程国际会议，探讨了数显卡尺在测量过程中的不确定度来源及其影响因素。文章通过实验数据分析，提出了提高测量精度的有效方法，对实际工程应用具有重要参考价值。
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