该会议论文介绍了利用扫描电子显微镜对一维纳米材料的场发射性能进行原位测量的方法。研究通过高分辨率成像与电学测试相结合，实时观察纳米材料在不同电场下的发射行为，为纳米器件的性能优化提供了重要数据支持。
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