会议论文《一种基于全数字激励测试的Sigma-Delta调制器可测性设计方法》提出了一种提高Sigma-Delta调制器测试效率的新方法。该方法通过全数字激励测试技术，增强了电路的可测性，简化了测试流程。研究在第六届中国测试学术会议上发表，为模拟集成电路测试提供了新的思路和技术支持。
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