LCD ITO自动检测系统设计 - 2010年全国工业控制计算机技术年会.pdf

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2026-1-10 21:34 | 查看全部 阅读模式

会议论文《LCD ITO自动检测系统设计》介绍了针对液晶显示器中ITO薄膜的自动化检测系统。该系统通过图像处理和模式识别技术,实现对ITO膜层缺陷的快速识别与分类,提高了检测效率和准确性。文章详细阐述了系统的硬件架构与软件算法,适用于工业生产中的质量控制环节,为LCD制造提供了可靠的技术支持。

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LCD ITO自动检测系统设计 - 2010年全国工业控制计算机技术年会
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