会议论文《DVD测头S曲线的变化规律受被测表面特性的影响》探讨了DVD测头在不同被测表面特性下S曲线的变化规律。研究分析了表面材质、粗糙度等因素对测量结果的影响,为提高测量精度提供了理论依据。该文在第九届全国光电技术学术交流会上发表,具有重要的应用价值和参考意义。
文档为pdf格式,0.67MB,总共5页。
举报