会议论文《128×128 InSb红外焦平面阵列噪声温度特性分析》探讨了InSb材料在不同温度下红外焦平面阵列的噪声特性。研究通过实验分析了温度变化对器件噪声性能的影响，为提高红外成像系统的信噪比和稳定性提供了理论依据和技术支持。
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