会议论文《基于寿命试验监测数据的行波管可靠性初步分析》发表于中国电子学会真空电子学分会第十九届学术年会。该文通过分析行波管在寿命试验中的监测数据，探讨其可靠性表现及失效机制。研究为提高行波管的使用寿命和系统稳定性提供了理论依据和技术支持，对真空电子器件的发展具有重要意义。
文档为pdf格式，1.28MB，总共4页。
举报
