该会议论文介绍了如何通过在准远场距离上测量得到的天线方向图，计算出天线的远场方向图。文章提出了相应的算法和方法，解决了传统远场测量中设备要求高、环境限制大的问题。研究对于降低天线测试成本、提高测试效率具有重要意义，适用于各类天线性能评估与优化。
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